Логика - Специальность Логика - Шэньчжэнь Синьхуо Будущая технология Co., Ltd

модель	марка	запасы	количество	описание
CD40117BPWG4	Texas Instruments	5000	- + консультация	IC TERMINATOR PROG DUAL 14-TSSOP
SN74ABT18640DLR	Texas Instruments	5000	- + консультация	IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 56SSOP
MC1019P	Rochester Electronics, LLC	5000	- + консультация	ADDER/SUBTRACTOR, ECL, PDIP14
CD40117BPWR	Texas Instruments	5000	- + консультация	IC TERMINATOR PROG DUAL 14-TSSOP
SN74ABT18640DLRG4	Texas Instruments	5000	- + консультация	IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 56SSOP
9304FM	Rochester Electronics, LLC	5000	- + консультация	LOGIC CIRCUIT
CD40117BPWRE4	Texas Instruments	5000	- + консультация	IC TERMINATOR PROG DUAL 14-TSSOP
SN74ABT8543DLR	Texas Instruments	5000	- + консультация	IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP
9341DM	Rochester Electronics, LLC	5000	- + консультация	LOGIC CIRCUIT
CD40117BPWRG4	Texas Instruments	5000	- + консультация	IC TERMINATOR PROG DUAL 14-TSSOP
SN74ABT8543DWR	Texas Instruments	5000	- + консультация	IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC
MC100EP16TDTG	onsemi	5000	- + консультация	IC RCVR/DRVR ECL DIFF 5V 8TSSOP
CD4089BPWG4	Texas Instruments	5000	- + консультация	IC BINARY RATE MULTIPLR 16-TSSOP
SN74ABT8543DWRE4	Texas Instruments	5000	- + консультация	IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC
JM38510/31202B2A	Rochester Electronics, LLC	5000	- + консультация	ADDER/SUBTRACTOR, LS SERIES
CD74ACT283M96G4	Texas Instruments	5000	- + консультация	IC 4BIT BINARY FILL ADDER 16SOIC
SN74ABT8646DWR	Texas Instruments	5000	- + консультация	IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC
54F385DM	Rochester Electronics, LLC	5000	- + консультация	ADDER/SUBTRACTOR
SN74ABT8543DWRG4	Texas Instruments	5000	- + консультация	IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC
SN74ABT8646DWRE4	Texas Instruments	5000	- + консультация	IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC